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SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)產品介紹發(fā)布時間：2026-03-12

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間...

詳情

2019
2-22

關于介電常數(shù)測試儀
HCJDCS-B型高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀產品簡介HCJDCS-B介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC60250）設計和...
2019
2-21

關于四探針測試儀
四探針測試儀產品名稱：四探針測試儀產品型號：HCTZ-2S品牌：北京華測產品介紹HCTZ-2S四探針測試儀器是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準而設計的，于測試半導體材料電阻...
2019
2-21

四探針測試儀進行測試的幾個注意事項
四探針測試儀進行測試的幾個注意事項四探針電阻率測試儀特點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表(以萬分之幾的精度)適時監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，...
2019
2-19

介電常數(shù)測試儀測試標準
介電常數(shù)測試儀測試標準介電常數(shù)測試儀是通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計算機作為儀器的控制、測量核心，真正實現(xiàn)了Q值的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在一個液晶屏上展示出來。介電常數(shù)測試儀測試標準GB7265.2-1987...
2019
2-18

關于檢測電壓擊穿的測試規(guī)范的問題
關于檢測電壓擊穿的測試規(guī)范的問題如下GB/T1408.1-2016測試規(guī)范中提及的「垂直于非層迭材料表面和垂直于層迭材料層向的試驗」與「平行于非層迭材料表面和平行于迭層材料層向的試驗」，這兩種測試原理及差異為何？答：、垂直擊穿：是材料在垂直...
2019
2-18

北京華測電荷量表的簡單介紹
電荷量表測量防靜電工作服和紡織品的帶電電量以及帶電電荷密度（符合GB12014的和GB12704的要求）。測量各種粉體、液體、固體的帶電電荷量。測量靜電火花放電電量。研究摩擦帶電系列。測量靜電導體的電容量。測量物體表面電位及電荷面密度。電荷...

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